AL-Y3500A衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。

X射線(xiàn)衍射儀AL-Y3500A

AL-Y3500A衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。

硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的結(jié)合，滿(mǎn)足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要。

• 高精度的衍射角度測(cè)量系統(tǒng)，獲取更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果

• 高穩(wěn)定性的X射線(xiàn)發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度

• 各種功能附件滿(mǎn)足不同測(cè)試目的需要

• 程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)便、儀器外型更美觀

  X射線(xiàn)衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測(cè)試儀器：

• 未知樣品中一種和多種物相鑒定

• 混合樣品中已知相定量分析

• 晶體結(jié)構(gòu)解析（Rietveld結(jié)構(gòu)分析）

• 非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化（高溫、低溫條件下）

• 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度

• 微區(qū)樣品的分析

• 金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析