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【儀器網(wǎng) 行業(yè)應(yīng)用】X射線光電子能譜儀是一種表面分析技術(shù)，主要用來表征材料表面元素及其化學(xué)狀態(tài)，常與俄歇電子能譜技術(shù)配合使用。由于X射線光電子能譜技術(shù)可以比俄歇電子能譜技術(shù)更準(zhǔn)確地測量原子的內(nèi)層電子束縛能及其化學(xué)位移，所以不僅能為化學(xué)研究提供分子結(jié)構(gòu)和原子價態(tài)方面的信息，而且還能為電子材料研究提供各種化合物的元素組成和含量、化學(xué)狀態(tài)、分子結(jié)構(gòu)以及化學(xué)鍵方面的信息。
分析特點：
1、可以分析除H和He以外的所有元素，對所有元素的靈敏度具有相同的數(shù)量級。
2、相鄰元素的同種能級的譜線相隔較遠，相互干擾較少，元素定性的標(biāo)識性強。
3、能夠觀測化學(xué)位移?；瘜W(xué)位移同原子氧化態(tài)、原子電荷和官能團有關(guān)?；瘜W(xué)位移信息是XPS用作結(jié)構(gòu)分析和化學(xué)鍵研究的基礎(chǔ)。
4、可作定量分析。既可測定元素的相對濃度，又可測定相同元素的不同氧化態(tài)的相對濃度。
5、是一種高靈敏超微量表面分析技術(shù)。樣品分析的深度約2 nm，信號來自表面幾個原子層，樣品量可少至10-8g，靈敏度可達10-18g。
應(yīng)用領(lǐng)域：
X射線光電子能譜儀的應(yīng)用領(lǐng)域十分廣泛，不僅可以對固體樣品的元素成分進行定性定量或半定量及價態(tài)分析，而且還可以對樣品表面的組成組分及其化學(xué)狀態(tài)進行分析，廣泛應(yīng)用于元素分析、多相研究、化合物結(jié)構(gòu)鑒定及富集法微量元素分析等領(lǐng)域。
1、樣品表面1-12nm的元素和元素質(zhì)量；
2、檢測存在于樣品表面的雜質(zhì)；
3、含過量表面雜質(zhì)的自由材料的實驗式；
4、樣品中一種或多種元素的化學(xué)狀態(tài)；
5、一個或多個電子態(tài)的鍵能；
6、不同材料表面12 nm范圍內(nèi)一層或多層的厚度；
7、電子態(tài)密度測量。
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